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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)介
	GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A四探針測(cè)試儀（便攜式）	GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便攜式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，于測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
	HA/RTS-5雙電測(cè)四探針測(cè)試儀	雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀　型號(hào)：HA/RTS-5
	HAD-WSP-51便攜式四探針檢測(cè)儀 *	方塊電阻/電阻率四探針測(cè)試儀/便攜式四探針檢測(cè)儀 * HAD-WSP-51數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。
	HAD-ST2258A數(shù)字式四探針測(cè)試儀 *	數(shù)字式四探針測(cè)試儀/數(shù)字式四探針測(cè)試儀 * 　HAD-ST2258A型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
	GSZ-RTS-2四探針測(cè)試儀（便攜式）/四探針電阻率測(cè)試儀	四探針測(cè)試儀（便攜式）/四探針電阻率測(cè)試儀 GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便攜式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，于測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
	HAD-M-2數(shù)字式四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)定儀/四探針測(cè)試儀	數(shù)字式四探針測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)定儀/四探針測(cè)試儀 HAD-M-2型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測(cè)柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡(jiǎn)稱方阻），換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
	HAD-SZT-2A四探針測(cè)試儀	四探針測(cè)試儀 1．SZT-2A 主機(jī)采用領(lǐng)xian的電路，所測(cè)數(shù)值更精、更快、更準(zhǔn)（一代為傳統(tǒng)式電路，缺點(diǎn)：體積大，速度慢，元器件繁多導(dǎo)致影響機(jī)器壽命）。 2．屏幕采用液晶顯示（一代為只有數(shù)碼管顯示）。
	ST2258C數(shù)字式四探針測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀	數(shù)字式四探針測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀 ST2258C型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
	HAD-M-3手持式四探針測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀	手持式四探針測(cè)試儀四探針電阻率測(cè)試儀 HAD-M-3型手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
	GSZ-RTS-9雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀	雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合（亦稱雙位組合）測(cè)量新,將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
	HARTS-8四探針檢測(cè)儀	四探針測(cè)試儀四探針檢測(cè)儀四探針測(cè)定儀 HARTS-8型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。
	GSZ-RTS-5雙電測(cè)四探針測(cè)試儀	雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 GSZ-RTS-5型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合（亦稱雙位組合）測(cè)量新,將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

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