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產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱/型號
產(chǎn)品簡介
GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A四探針測試儀（便攜式）
GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
GSZ-RTS-2四探針測試儀（便攜式）/四探針電阻率測試儀
四探針測試儀（便攜式）/四探針電阻率測試儀 GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
ST2258C數(shù)字式四探針測試儀 四探針電阻率測試儀
數(shù)字式四探針測試儀 四探針電阻率測試儀 ST2258C型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。
HAD-ST2722半導體四探針電阻率測試儀 電阻率測定儀
半導體四探針電阻率測試儀 電阻率測定儀 ST2722 型半導體粉末電阻率測試儀是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器。
HAD-M-3手持式四探針測試儀 四探針電阻率測試儀
手持式四探針測試儀 四探針電阻率測試儀 HAD-M-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。
KDK-KDY-1四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀
四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀 四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。
KDK-KDY-1A便攜式四探針電阻率測試儀 四探針電阻率測試儀
便攜式四探針電阻率測試儀 四探針電阻率測試儀 便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導體材料電阻率的及國家標準測試方法有關規(guī)定。
KDK-KDY-4四探針電阻率測試儀
四探針電阻率測試儀 KDK-KDY-4型四探針電阻率測試儀嚴格按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國家標準，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。
KDK-KDY-1四探針電阻率測試儀
四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀/方阻測試儀/ 四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。
JH-WSP-11四探針電阻率測試儀
四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀/四探針電阻率測定儀/電阻率測試儀 1、連接好測試探頭電纜與主機，接上電源。 2、儀器顯示開機界面“-J-H-”，等待幾秒鐘進入測試界面。 3、調(diào)節(jié)厚度，按‘+’、‘-’調(diào)節(jié)，如圖所示，數(shù)值為3.98mm。
CH-WSP-6半導體電阻率測試儀
半導體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀 CH-WSP-6型半導體電阻率測試儀是于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是硅料分選測試的理想工具。
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