半導(dǎo)體中空玻璃露點(diǎn)儀 中空玻璃露點(diǎn)儀 型號(hào):HAD-ZK-I 一、 用途 露點(diǎn)儀是根據(jù)中華人民共和國國定標(biāo)準(zhǔn)GB/T11944-2002《中空玻璃》研制的中空玻璃的檢測儀器。使用于中空玻璃、真空玻璃及密封玻璃制品的露點(diǎn)檢測。廣泛用于玻璃深加工企業(yè)的質(zhì)量控制和各級(jí)質(zhì)量監(jiān)督檢測。 二、 儀器結(jié)構(gòu)與工作原理 本儀器由低溫測試頭和制冷機(jī)組組成,通過測試頭和被檢測樣品的緊密接觸,使樣品表面局部冷卻,當(dāng)達(dá)到一定溫度后,內(nèi)部水氣在冷點(diǎn)部分結(jié)露或結(jié)霜。露點(diǎn)儀主要檢測樣品在某一溫度下是否結(jié)露或結(jié)霜。 三、 規(guī)格及主要參數(shù) 1、低溫測試頭表面直徑:50mm。 2、測溫范圍:-60-0℃ 準(zhǔn)確度:0.5% 3、工作電壓:220伏 4、使用環(huán)境:溫度0-50℃ 四、設(shè)備清單 1.制冷主機(jī) 1套 2.低溫測試頭 1個(gè) 3.真空吸盤 1個(gè) 4.產(chǎn)品合格證 1份 5.產(chǎn)品說明書 1份 |
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