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濕海綿針孔檢漏儀   *
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產(chǎn)品型號(hào):
HAD-SJ-6
產(chǎn)品名稱(chēng):
濕海綿針孔檢漏儀 *
產(chǎn)品報(bào)價(jià):
產(chǎn)品特點(diǎn):
濕海綿針孔檢漏儀/針孔檢漏儀 *
HAD-SJ-6濕海綿針孔檢漏儀是一款多電壓的檢漏儀,它應(yīng)用濕海綿測(cè)試,上滿(mǎn)足濕海綿檢漏儀的新標(biāo)準(zhǔn)——即高質(zhì)量、低電壓檢漏儀。用于測(cè)量導(dǎo)電基體上500微米以下的絕緣涂層的針孔、縫隙、破損等缺陷。
  HAD-SJ-6濕海綿針孔檢漏儀 *的詳細(xì)資料:

濕海綿針孔檢漏儀/針孔檢漏儀 * 型號(hào):HAD-SJ-6

整機(jī)概述: HAD-SJ-6濕海綿針孔檢漏儀是一款多電壓的檢漏儀,它應(yīng)用濕海綿測(cè)試,上滿(mǎn)足濕海綿檢漏儀的新標(biāo)準(zhǔn)——即高質(zhì)量、低電壓檢漏儀。用于測(cè)量導(dǎo)電基體上500微米以下的絕緣涂層的針孔、縫隙、破損等缺陷。

性能及特點(diǎn):

(1)適用檢測(cè)厚度:9V ——300微米; 67.5V—500微米; 90V——500微米;(2)靈敏度:9V——90KΩ+5%; 67.5V—125KΩ+5%; 90V——400KΩ+5%;(3)電壓精確度:+5%;(

4)電池:鋰聚合物電池(Li-pol)11.1V/1100mA (5)消耗功率:≤0.5W;

(6)主機(jī)重量:500克

(7)尺寸:290×53×53mm (8)電壓指示:三個(gè)電壓分別有對(duì)應(yīng)的led燈指示;(9)電池充電:專(zhuān)門(mén)配有12VDC鋰電池恒壓充電器。

(10)海綿尺寸:170×70×30mm

(11)探桿長(zhǎng)度:195mm

(12)地線長(zhǎng)度:4m 儀器及附件(裝箱單)

 ⑴ HAD-SJ—6型濕海綿針孔檢漏儀主機(jī)     1臺(tái)

 ⑵ 探桿                1支

 ⑶ 海綿探頭          1塊

⑷ 接地線 1根

 ⑸ 充電器 1個(gè)

⑹ 塑料包裝箱 1個(gè)

 ⑺ 使用說(shuō)明書(shū) 1份

 ⑻ 儀器保修卡 合格證       1份

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀/電阻測(cè)試儀 型號(hào):HAD-HHY8-DB-4

HAD-HHY8-DB-4電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀是根據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB3048.3—94研究成功的測(cè)量設(shè)備,主要用于測(cè)量電纜用橡膠和塑料半導(dǎo)電材料中間試樣電阻率以及各種導(dǎo)電橡塑產(chǎn)品電阻,若換上的四端子測(cè)試夾,還可以對(duì)金屬導(dǎo)體材料及產(chǎn)品的低、中值電阻進(jìn)行測(cè)量

經(jīng)過(guò)了十多年的實(shí)際運(yùn)行,全國(guó)近百家主要電纜廠和半導(dǎo)電屏蔽材料廠均已采用了該儀器,它是目前全國(guó)wei一符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB3048.3-94的測(cè)量半導(dǎo)電橡塑材料電阻率的儀器。

   儀器為臺(tái)式結(jié)構(gòu),主要由電氣箱、測(cè)試架兩大部分組成,固定在工作臺(tái)上,電氣箱包括高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的直流恒流源,測(cè)量結(jié)果采用LED數(shù)字直接顯示,測(cè)量電流輸出也采用LED數(shù)字顯示,從0—100mA范圍內(nèi)可任意調(diào)節(jié),可達(dá)到控制測(cè)試功率損耗的規(guī)定,儀器測(cè)試架由電極、壓力探頭、樣品臺(tái)及電動(dòng)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)組成,操作按鍵電鈕,可進(jìn)行半自動(dòng)測(cè)量。

   儀器具有測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn),符合和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的要求。

   儀器適用于電纜廠、導(dǎo)電橡塑材料廠、計(jì)算機(jī)廠、電子表廠、高等院校、科學(xué)研究等,對(duì)于導(dǎo)電橡塑材料及產(chǎn)品的電阻性能測(cè)試、工藝檢測(cè),是必需的測(cè)試設(shè)備。

   儀器主要指標(biāo):                                                            

一、 測(cè)量范圍:10-4--103Ω-cm可擴(kuò)展到105Ω-cm;分辯率10-6Ω-cm

二、 數(shù)字電壓表:

1.  量程0.2mV、2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  測(cè)量誤差  0.2mA檔±(0.5%讀數(shù)+8字);2mV—2V擋±(0.5%讀數(shù)+2字)

3.  顯示3 1/2 位數(shù)字顯示0—1999具有極性和過(guò)載自動(dòng)顯示,小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示。

三、 恒流源:

1.  電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào),由交流電源供給,數(shù)字顯示

2.  量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

3.  電流誤差:±(0.5%讀數(shù)+2字)

四、 測(cè)量電極:

1.  電流電極:寬度50mm,與試樣的接觸寬度5mm,兩個(gè)電流電極間的距離110mm

2.  電位電極:寬度50mm,接觸半徑,兩個(gè)電位電極間的距離20mm±2%

  五、電源:220±10%   50HZ或60HZ 功率消耗<50W

六、外形尺寸(包括測(cè)試工作臺(tái))1200×600×1050mm(長(zhǎng)×寬×高)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

二探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀 型號(hào):HAD-HHY8-GL-1

本儀器主要用于測(cè)量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況,以便硅材料的切割和加工。

    為適應(yīng)大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展,特別是計(jì)算機(jī)芯片、內(nèi)存的發(fā)展,越來(lái)越多的使用到了大直徑、高純度、均勻度更高的單晶硅材料。目前,在美國(guó)、德國(guó)等的工業(yè)國(guó)家,均采用了二探針?lè)?,使用二探針檢測(cè)儀來(lái)測(cè)量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。

儀器符合美國(guó)ASTM 《“F391-77”關(guān)于二探針測(cè)量硅單晶試驗(yàn)方法》的標(biāo)準(zhǔn),是一種新型的半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀,適合半導(dǎo)體材料廠和器件廠用于二探針?lè)ň_測(cè)量單晶硅和多晶硅半導(dǎo)體棒狀材料的體電阻率,從而進(jìn)一步判斷半導(dǎo)體材料的性能,指導(dǎo)和監(jiān)視工藝操作,也可以用來(lái)測(cè)量金屬材料的電阻,儀器具有測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便、造型美觀等特點(diǎn)。也可以配四探針測(cè)試頭作常規(guī)的四探針?lè)y(cè)量硅晶體材料。

    儀器分為儀表電氣控制箱、測(cè)試臺(tái)、探頭三部分,儀表電氣控制箱由高靈敏度直流數(shù)字電壓表、高抗干擾高隔離性能的電源變換裝置、高穩(wěn)定高精度恒流源和電氣控制部分組成。測(cè)量結(jié)果由大型LED數(shù)字顯示,零位穩(wěn)定、輸入阻抗高,并設(shè)有自校功能。在棒狀材料使用二探針?lè)y(cè)試時(shí),具有系數(shù)修正功能,從面板輸入相應(yīng)的修正系數(shù),可以直接讀出電阻率,使用方便。測(cè)試臺(tái)結(jié)構(gòu)新穎,造型美觀,可以方便地固定好大小任意尺寸的樣品,并可以作逐點(diǎn)選擇步進(jìn)測(cè)量,也可以自由選擇固定位置測(cè)量,電極活動(dòng)自如,具備鎖定裝置,方便重復(fù)測(cè)量。另外還配置了二處記錄板和轉(zhuǎn)椅,測(cè)試探頭能自動(dòng)升降,探針為碳化鎢材料,配置寶石軸承,具有測(cè)量精度高、游移率小、耐磨、使用壽命長(zhǎng)特點(diǎn)。同時(shí)探頭壓力恒定并且可調(diào)整,以適合不同的材料。

儀器主要指標(biāo):

1.可測(cè)硅材料尺寸:

     直徑Φ25~Φ150mm滿(mǎn)足ASTM F-397的要求。

     長(zhǎng)度:100~1100mm.

2.測(cè)量方式:軸向測(cè)量,每隔10mm測(cè)量一點(diǎn)。

3.測(cè)量電阻率范圍:10-3~103Ω-cm,可擴(kuò)展到105Ω-cm。

4.數(shù)字電壓表:

    (1)量    程:0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

    (2)測(cè)量誤差:±0.3%讀數(shù)±2字

    (3)輸入阻抗:0.2mV和2mV檔>106Ω

                  20mV檔及以上>108Ω

    (4)顯    示:31/2位LED數(shù)字顯示,范圍0~1999。

5.恒流源:

    (1)電流輸出:直流電流0~100mA連續(xù)可調(diào)。

    (2)量    程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

    (3)電流誤差:±0.3%讀數(shù)±2字

6.二探針測(cè)試裝置:

    (1)探針間距:4.77mm

    (2)探針機(jī)械游移率:0.3%

    (3)探針壓力:0~2kg可調(diào)

    (4)測(cè)試探頭自動(dòng)升降

7.二探針測(cè)試臺(tái)

    (1)測(cè)試硅單長(zhǎng)度:100-1100mm

    (2)測(cè)試點(diǎn)間距:10mm

    (3)測(cè)試臺(tái)有慢、快二種移動(dòng)速度,快速移動(dòng)速度為1000mm/分(均勻

手動(dòng))

8.電源:交流220V±10%,50HZ±2HZ,消耗功率<150W

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

數(shù)字式四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀/數(shù)字式四探針檢測(cè)儀 型號(hào):HAD-HHY8-SZT-2000

HAD-HHY8-SZT-2000型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是根據(jù)四探針測(cè)試原理研究成功的多用途的綜合測(cè)量裝置,它可以測(cè)量棒狀、塊狀

半導(dǎo)體材料的電阻率和半導(dǎo)體擴(kuò)散層的薄層電阻進(jìn)行測(cè)量,可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測(cè)硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻,是硅材料質(zhì)量監(jiān)測(cè)的必需儀器。

儀器為臺(tái)式結(jié)構(gòu),分為電氣箱、測(cè)試架兩大部分,用戶(hù)可以根據(jù)測(cè)試需要安放在一般工作臺(tái)或者工作臺(tái)上,測(cè)試架由探頭及壓力傳動(dòng)機(jī)構(gòu)、樣品架組成,耐磨和使用壽命長(zhǎng)的特點(diǎn)。探頭內(nèi)設(shè)有彈簧壓力裝置,壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào),測(cè)試架設(shè)有手動(dòng)和電動(dòng)兩種裝置供用戶(hù)選購(gòu)。

儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的恒流源組成,測(cè)量結(jié)果由數(shù)字直接顯示,儀器有自校量程,可以方便地對(duì)儀器的電氣性能進(jìn)行校驗(yàn)。

儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測(cè)量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn),儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科學(xué)研究、高等院校,對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試及工藝檢測(cè)。

儀器主要指標(biāo):

1.  范圍:電阻率10-4—103Ω—cm,可擴(kuò)展至105Ω—cm,分辯率為10-6Ω—cm

         方塊電阻10-3—103Ω /□

         電阻10-6—105Ω

2.  可測(cè)半導(dǎo)體尺寸:直徑Φ15—150mm

3.  測(cè)量方式:軸向、斷面均可(手動(dòng)測(cè)試架)

4.  數(shù)字電壓表(1)量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

  (2)測(cè)量誤差 0.2mV檔±(0.3%讀數(shù)+8字)

              2 mV檔以上±(0.3%讀數(shù)+2字)

  (3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω

              20mV檔以上>108Ω

  (4)顯示3 1/2位數(shù)字顯示,0—1999

具有極性和過(guò)載自動(dòng)顯示,小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示

5.  恒流源:(1)電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào),由交流電源供給

   (2)量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔

   (3)電流誤差:±(0.3%讀數(shù)+2字)

6.四探針測(cè)試探頭  (1)探頭間距:1mm   (2)探針機(jī)械游率:±0.3%

                   (3) 探針:Φ0.5mm    (4)壓力:可調(diào)

  7. 測(cè)試架:

  (1)手動(dòng)測(cè)試架:探頭上升及下降由手動(dòng)操作,可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測(cè)試。

  (2)電動(dòng)測(cè)試架:探頭的上升和下降由電動(dòng)操作,設(shè)有自動(dòng)控制器控制,探頭上升時(shí)間1S—99S可調(diào),探頭下降時(shí)間1S—99S可調(diào),壓力恒定可調(diào)(由砝碼來(lái)設(shè)定)同時(shí)設(shè)有腳踏控制裝置由腳踏開(kāi)關(guān)控制探頭上下運(yùn)動(dòng)。

   8.電流:220V±10% 50HZ或60HZ:功率消耗<35W

9.    外形尺寸:電氣箱130×110×400mm

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀/電阻率測(cè)試儀/半導(dǎo)體電阻率測(cè)定儀(含探頭和測(cè)試架) 型號(hào):HAD-HHY8-BD-86A

HAD-HHY8-BD-86A型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是我廠推出的的普及型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀器,本儀器是根據(jù)四探針原理,適合半導(dǎo)體器材廠,材料廠用于測(cè)量半導(dǎo)體材料(片狀、棒狀)的體電阻率,方塊電阻(簿層電阻),也可以用作測(cè)量金屬薄層電阻,經(jīng)過(guò)對(duì)用戶(hù)、半導(dǎo)體廠測(cè)試的調(diào)查,根據(jù)美國(guó)ASTM標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,在電路和探頭方面作了重大的修改和上的許多突破,它更適合于半導(dǎo)體器材廠工藝檢測(cè)方面對(duì)中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測(cè)量需要,成為普及型的電阻率測(cè)試儀,具有測(cè)量精度高,穩(wěn)定性好,輸入阻抗高,使用方便、價(jià)格低廉等特點(diǎn)。

   儀器主要指標(biāo):

1.  測(cè)量范圍:電阻率10-3—103Ω-cm,分辯率為 10-4Ω-cm ,可擴(kuò)展到105Ω-cm

  方塊電阻10-2—104Ω/□,分辯率為10-3Ω/□,可擴(kuò)展到106Ω/□

薄層金屬電阻10-4—105Ω,分辯率為10-4Ω

2.可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸:直徑Φ15—Φ125mm;  長(zhǎng)度:150mm(可擴(kuò)展500mm)

     3.測(cè)量方式:軸向、斷面均可

4.?dāng)?shù)字電壓表:(1)量程:20mV(分辯率:10μV)、200mV、2V

             (2)測(cè)量誤差:±0.3%讀數(shù)±1字

             (3)輸入阻抗:大于108Ω

             (4)顯示3 1/2 位紅色發(fā)光二極管(LED)數(shù)字顯示

                  0---1999具有極性、過(guò)載、小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示

5.恒流源:由交流供電,具有良好的防泄漏隔離功能

(1)       直流電流:0—100mA連續(xù)可調(diào)

(2)       量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

(3)       分辯率:10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA

(4)       電流誤差:±0.3%讀數(shù)±2字

6.電性能模擬考核誤差:<±0.3%符合ASTM指標(biāo)

7.測(cè)試探頭:(1)探針機(jī)械游移率:± 0.3% 符合ASTM 指標(biāo)

8.電源:交流220V±10%   50HZ或60HZ  功率消耗< 30W

9.電氣箱外形尺寸:119×440×320mm

產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: 濕海綿針孔檢漏儀 針孔檢漏儀
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