| 產(chǎn)品詳情： BZ-X-3680是一種體現(xiàn)X射線熒光分析進展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發(fā)源，電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發(fā)的應用軟件，充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能，保證了整臺儀器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。 儀器檢測能力強，分辨率高，適用于各行業(yè)對不同元素進行無損檢測。在不同工作環(huán)境下分析范圍從Al（13號元素）到U（92號元素）。無損分析迅速，無需制樣，測試時間從幾秒到幾分鐘可調(diào)。檢測精度從PPM級別到千分之別。 強勢功能 1. 基本參數(shù)法對從鋁（13號元素）至鈾（92號元素）定性分析測量。 2．包裹樣品檢測辨別系統(tǒng)。 3．樣品室高清成像定位系統(tǒng)，方便微小樣品定位測量。 4．電制冷與內(nèi)部雙向循環(huán)冷卻恒溫系統(tǒng)相結(jié)合，維持內(nèi)部工作環(huán)境穩(wěn)定。 5. 內(nèi)部動力學風道，快速排出多余熱量。 6．雙峰位快速自動校準。 7．雙箱體結(jié)構，抗干擾能力強且方便硬件升級。 8．儀器工作方法任意開發(fā)。 9. 定量分析：包括經(jīng)驗系數(shù)法，理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。 10.定性分析：包括Kl譜線標記法，譜圖比較法，光標自動尋峰等。 11.測試報表根據(jù)客戶要求獨立。 12.溫度系數(shù)：溫度變化1度，電壓變化不超過0.01%
13.穩(wěn)定性：經(jīng)過半個小時預熱后，每8小時變化不超過0.05%
14.準直器：使用的濾波片自動更換，提高高能區(qū)的峰背比。
15.彩色液晶顯示屏
16.自主研發(fā)的數(shù)字集成新型放大器，提高降噪比。 整機規(guī)格 1．外型尺寸：600mm×530mm×330mm 2. 可測試樣品大小：關倉測量：220mm×200mm×150mm 開倉測量：無限大 3. 儀器重量：50公斤 4．工作環(huán)境溫度：0——35℃ 5. 工作環(huán)境相對濕度：≤80% 6. 元素分析范圍：鋁（Al）——鈾（U） 7. 含量分析范圍：1PPM——99.999% 8．測量時間:10——180秒可調(diào) 9. 激發(fā)源：低功率X射線管 10．高壓電源：美國Spellman*高壓電源 11．探測器：美國Amptek*電制冷Si-Pin半導體探測器 12. 儀器分辨率：55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優(yōu)于149eV 13．多道分析器：2048道 14．軟件：基于WINDOWS的強大工作軟件 15. 客戶可進行二次開發(fā)，自行開發(fā)任意多個分析方法 16．工作電源：交流 220V 50Hz | 
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