差熱實(shí)驗(yàn)裝置 差熱實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào):HAD-ZCR-I/II 本裝置采用單片機(jī)程序控溫。測(cè)量參比物和物質(zhì)在物理或化學(xué)作用下所產(chǎn)生的熱效應(yīng)(吸熱或放熱)以及相對(duì)溫度變化。 裝置組成及特點(diǎn): * ZCR差熱實(shí)驗(yàn)儀 * 差熱實(shí)驗(yàn)爐 1、溫度范圍:室溫~1100℃ 2、溫度分辨率:0.1℃ 3、控溫速率:1~20℃/min 4、程序方式:微型處理器程序控制PID 5、DTA分辨率:1uV 6、DTA量程:0~2000uV(不分檔) 7、DSC方式數(shù)據(jù)采集分析(I型) 8、DSC范圍(I型):1mW~±100mW 9、DSC解析度(I型):10uW 10、輸出方式:計(jì)算機(jī)、打印機(jī)系統(tǒng) 11、自帶降溫功能 注:氣氛裝置(選配) |