產(chǎn)品名稱：自平衡隔振平臺(tái)
產(chǎn)品型號(hào)：DH-OTS-1509(150） |
DH-OTS 自平衡隔振平臺(tái)，采用的三調(diào)節(jié)閥，精確保持平臺(tái)臺(tái)面的位置。水平調(diào)節(jié)閥反應(yīng)靈敏，響應(yīng)迅速。支撐采用高品質(zhì)氣囊，隔振性能。上表面采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼，厚度6-8mm，中間內(nèi)核結(jié)構(gòu)緊密，底面采用普通鋼板。自平衡隔振平臺(tái)性能，適用于隔振要求較高，且要求自動(dòng)平衡的應(yīng)用情況。 注意:如果您還需要其他規(guī)格，請(qǐng)點(diǎn)擊下表格的型號(hào)連接。 | 產(chǎn)品名稱 | 型號(hào) | 規(guī)格 | 備注 | | 自平衡隔振平臺(tái) | DH-OTS-1208（150） | 1200x800x800 | M6 螺孔陣距25mm 自平衡支撐 | | 自平衡隔振平臺(tái) | DH-OTS-1509（150） | 1500x900x800 | M6 螺孔陣距25mm 自平衡支撐 | | 自平衡隔振平臺(tái) | DH-OTS-1809（200） | 1800x900x800 | M6 螺孔陣距25mm 自平衡支撐 | | 自平衡隔振平臺(tái) | DH-OTS-1812（200） | 1800x1200x800 | M6 螺孔陣距25mm 自平衡支撐 | | 自平衡隔振平臺(tái) | DH-OTS-2010（200） | 2000x1000x800 | M6 螺孔陣距25mm 自平衡支撐 | | 自平衡隔振平臺(tái) | DH-OTS-2412（200） | 2400x1200x800 | M6 螺孔陣距25mm 自平衡支撐 |
掃描電化學(xué)顯微鏡 型號(hào)：CHI900D/920D 電化學(xué)掃描顯微鏡(SECM)于1989年并獲得美國(guó)專li。CH Instruments與University of Taxes at Austin的化學(xué)系的Allen J. Bard教授合作實(shí)現(xiàn)了電化學(xué)掃描顯微鏡的儀器商品化，從而使得這一強(qiáng)有力的研究方法走進(jìn)了更多的實(shí)驗(yàn)室。 掃描電化學(xué)顯微鏡與掃描隧道顯微鏡(STM)的工作原理類似。但SECM測(cè)量的不是隧道電流，而是由化學(xué)物質(zhì)氧化或還原給出的電化學(xué)電流。盡管SECM的分辨率較STM低，但SECM的樣品可以是導(dǎo)體，絕緣體或半導(dǎo)體，而STM只限于導(dǎo)體表面的測(cè)量。SECM除了能給出樣品表面的地形地貌外，還能提供豐富的化學(xué)信息。其可觀察表面的范圍也大得多。 在SECM的實(shí)驗(yàn)中，探頭先移動(dòng)到非?？拷鼧悠繁砻?，然后在X-Y的平面上掃描。探頭是雙恒電位儀的*個(gè)工作電極。如果樣品也是導(dǎo)體，則通常作為第二個(gè)工作電極。探頭的電位控制在由傳質(zhì)過(guò)程控制的氧化或還原的電位。而樣品的電位被控制在其逆反應(yīng)的電位。由于探頭很靠近樣品，探頭上的反應(yīng)產(chǎn)物擴(kuò)散到樣品表面又被反應(yīng)成為原始反應(yīng)物并回到探頭表面再作用，從而造成電流的增加。這被稱為＂正反饋＂方式。正反饋的程度取決于探頭和樣品間的距離。如果樣品是絕緣體，當(dāng)探頭靠近樣品時(shí)，反應(yīng)物到電極表面的擴(kuò)散流量受到樣品的阻礙而造成電流的減少。這被稱為＂負(fù)反饋＂方式。負(fù)反饋的程度亦取決于探頭和樣品間的距離。探頭電流和探頭與導(dǎo)體或絕緣體樣品間的距離的關(guān)系可通過(guò)現(xiàn)有理論計(jì)算得到。 基于以上特性，SECM已在多個(gè)領(lǐng)域發(fā)現(xiàn)了許多應(yīng)用。SECM能被用于觀察樣品表面的化學(xué)或生物活性分布，亞單分子層吸附的均勻性，測(cè)量快速異相電荷傳遞的速度，或二級(jí)隨后反應(yīng)的速度，酶-中間體催化反應(yīng)的動(dòng)力學(xué)，膜中離子擴(kuò)散，溶液/膜界面以及液/液界面的動(dòng)力學(xué)過(guò)程。SECM還被用于單分子的檢測(cè)，酶和脫氧核糖核酸的成像，光合作用的研究，腐蝕研究，化學(xué)修飾電極膜厚的測(cè)量，納米級(jí)刻蝕，沉積和加工，等等。SECM的許多應(yīng)用或是其他方法無(wú)法取代的，或是用其他方法很難實(shí)現(xiàn)的。 CHI900D/920DSECM是CHI900C/920C的改進(jìn)型。儀器由雙恒電位儀/恒電流儀，高分辨的三維定位裝置，和樣品／電解池架子組成。三維定位裝置采用步進(jìn)電機(jī)(CHI900D)或者步進(jìn)電機(jī)與壓電晶體的組合(CHI920D)，可允許50毫米的運(yùn)行距離并達(dá)到納米的空間分辨。與CHI900B/910B采用的步進(jìn)電機(jī)相比，新的步進(jìn)電機(jī)的線性度和分辨率都明顯改善。步進(jìn)電機(jī)移動(dòng)平臺(tái)的分辨率可達(dá)4納米。這使得大部分SECM的應(yīng)用可以僅用步進(jìn)電機(jī)定位器(CHI900D)來(lái)實(shí)現(xiàn)。從而進(jìn)一步降低了儀器的價(jià)格。在需要不斷調(diào)整定位器而達(dá)到電流控制或其它控制的情況下，可采用步進(jìn)電機(jī)與壓電晶體閉環(huán)控制定位器的組合(CHI920D)。CHI920D的壓電晶體閉環(huán)控制定位器為XYZ三維空間。 雙恒電儀集成了數(shù)字信號(hào)發(fā)生器和高分辨數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。電位范圍為±10V，電流范圍為±250mA。儀器的噪聲極低，其電流測(cè)量可低于1pA。兩個(gè)工作電極的電位可單獨(dú)控制，也允許同步掃描或階躍。與CHI900B相比，CHI900D在保持低噪聲的條件下，速度大為提高。信號(hào)發(fā)生器的更新速率為10MHz，數(shù)據(jù)采集采用兩個(gè)同步16位高分辨低噪聲的模數(shù)轉(zhuǎn)換器，雙通道同時(shí)采樣的高速率為1MHz。循環(huán)伏安法的掃描速度為1000V/s時(shí)，電位增量?jī)H0.1mV，當(dāng)掃描速度為5000V/s時(shí)，電位增量為1mV。儀器增加了交流測(cè)量方法，如交流阻抗的測(cè)量頻率可達(dá)1MHz，交流伏安法的頻率可達(dá)10KHz。CHI900D仍具備恒電流儀，正反饋iR降補(bǔ)償，用于旋轉(zhuǎn)電極轉(zhuǎn)速控制的模擬電壓輸出信號(hào)(0-10V)，外部信號(hào)輸入通道，以及一個(gè)16位高分辨高穩(wěn)定的電流偏置電路。 除了SECM成像以外，儀器還提供探頭掃描曲線，探頭逼近曲線和表面成像處理。探頭可沿X，Y，或Z的方向掃描，探頭和第二工作電極的電位可獨(dú)立控制并分別測(cè)量?jī)蓚€(gè)通道的電流。當(dāng)電流達(dá)到某一設(shè)定值時(shí)，探頭會(huì)停止掃描。探頭逼近表面時(shí)采用PID控制，可自動(dòng)調(diào)節(jié)移動(dòng)步長(zhǎng)使得快速逼近但又避免探頭碰撞樣品表面。儀器的控制軟件是多用戶界面的視窗程序，十分友好易用。儀器的其他特點(diǎn)還包括靈活的實(shí)驗(yàn)控制，數(shù)據(jù)分析，并集成了三維圖形。除了電流檢測(cè)方式，探頭的電位也能被檢測(cè)，從而允許用電位法做SECM。儀器還允許多種常規(guī)電化學(xué)測(cè)量方法。 電腦恒應(yīng)力壓力試驗(yàn)機(jī) 型號(hào)：HAD-BC-2000D HAD-BC-3000D 一、 主要用途 該試驗(yàn)機(jī)用于測(cè)定磚、石、砼等建筑材料的抗壓強(qiáng)度。 本機(jī)為電動(dòng)液壓加荷、傳感器測(cè)力、屏幕顯示力值、打印機(jī)打印力值數(shù)據(jù)、并換算抗壓強(qiáng)度。本試驗(yàn) 機(jī)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)«普通混凝土力學(xué)性能實(shí)驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)»，自動(dòng)控制加載速度，并具有加荷速度顯示、峰值保 持、過(guò)載保護(hù)功能，是建筑、建材、公路橋梁等工程單位*的試驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備。 二、 主要參數(shù) 1、 大載荷：HAD-BC-2000D 2000KN、 HAD-BC-3000D 3000KN 2、 示值準(zhǔn)確度： 3、 加荷速度可調(diào)： 0.3~30kN 4、 小分辨值： 0.1KN 5、 承壓板間大距離： 450MM 6、 上下壓力板規(guī)格： 450*450MM 7、 活塞直徑*大行程：直徑320*400mm 8、 電機(jī)功率： 1.5KW 9、 輸入電壓： 380V 10、 外型尺寸： 880*480*1400MM 11、凈重： 1500Kg 1800Kg 便攜式濁度測(cè)定儀 濁度分析儀 型號(hào)：HI93703-11(HI93703) 產(chǎn)品特性
HI93703-11微電腦便攜式濁度測(cè)定儀，操作簡(jiǎn)便，測(cè)量精度高。兩個(gè)測(cè)量范圍：0.00-50.00FTU和50-1000FTU，可滿足常規(guī)濁度測(cè)量。HI93703-11三點(diǎn)校準(zhǔn)，內(nèi)置實(shí)時(shí)時(shí)鐘，并可存儲(chǔ)199組數(shù)據(jù)?？墒褂?/span>HI92000軟件將數(shù)據(jù)下載到電腦中。儀器具有GLP功能，能自動(dòng)貯存近校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。
自動(dòng)三點(diǎn)校準(zhǔn)，操作簡(jiǎn)單
內(nèi)置實(shí)時(shí)時(shí)鐘
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能，RS232數(shù)據(jù)接口 HI93703-11(HI93703)便攜式濁度測(cè)定儀參數(shù) HI93703-11(HI93703)便攜式濁度測(cè)定儀 | 濁度量程 | 0.00 to 50.00 FTU；50 to 1000 FTU | 精度 | ±0.5 FTU或讀數(shù)的±5%（取較大者） | 光學(xué)系統(tǒng) | 紅外LED光源，硅光電池 | 校準(zhǔn)方式 | 3 點(diǎn)校準(zhǔn)（0 FTU，10 FTU，500 FTU） | 測(cè)量標(biāo)準(zhǔn) | USEPA 180.1 和 US standard Method 2130B | 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 199組測(cè)量數(shù)據(jù)，USB和RS232數(shù)據(jù)接口與電腦連接（需選購(gòu)數(shù)據(jù)線及軟件） | 供電方式 | 4×1.5V AA電池 | 使用環(huán)境 | 0 to 50℃ (32 to 122°F)；RH max 95%無(wú)冷凝 | 尺寸重量 | 220×82×66mm；510 g | 標(biāo)準(zhǔn)配置 | HI93703-11 | 主機(jī)、HI93703-4濁度標(biāo)準(zhǔn)組（標(biāo)準(zhǔn)值：0 FTU、10 FTU、500FTU）、HI731313玻璃比色皿、HI731318玻璃比色皿清洗布、中英文使用手冊(cè)、HE721016儀器攜帶箱 | HI93703 | 主機(jī)、HI93703-4濁度標(biāo)準(zhǔn)組（標(biāo)準(zhǔn)值：0 FTU、10 FTU、500FTU）、HI731313玻璃比色皿、HI731318玻璃比色皿清洗布、中英文使用手冊(cè)、HE721016儀器攜帶箱 | 選購(gòu)附件 | HI88703-11 | 濁度標(biāo)準(zhǔn)組，標(biāo)準(zhǔn)值：≤0.10NTU、15NTU、100NTU、750NTU、2000NTU，玻璃比色皿套裝 | HI98703-2 | 濁度標(biāo)準(zhǔn)校正液 標(biāo)準(zhǔn)值：15FNU/NTU | HI731333N | 玻璃比色皿，由HI731331 玻璃比色皿杯和HI93703-60 比色皿蓋組成、規(guī)格：4套/組 | HI740234 | EAP標(biāo)準(zhǔn)光源，適用于濁度測(cè)定儀 | HI92000 | Windows數(shù)據(jù)處理軟件 | HI920014 | USB數(shù)據(jù)傳輸線 | HI93703-4 | 濁度標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)組 | HI731313 | 玻璃比色皿套裝 | HI93703-50 | 玻璃比色皿清洗液 | HI93703-58 | 玻璃比色皿修復(fù)潤(rùn)滑劑 | HI731340 | 取液器 | HI731341 | 取液器 | HI731342 | 取液器 | HE721016 | 儀器攜帶箱 | HI731318 | 玻璃比色皿清潔布 |
測(cè)斜儀 自浮式電子單點(diǎn)測(cè)斜儀 電子單點(diǎn)測(cè)斜儀 型號(hào)：HAD-SQD-F HAD-SQD-F系列測(cè)斜儀利用泥漿液柱壓力使其下行至鉆具托盤處，測(cè)量結(jié)束停泵后儀器靠自身的浮力浮至井口。該儀器不需絞車和鋼絲繩，其主機(jī)可與傳統(tǒng)吊測(cè)儀器通用，且在測(cè)斜過(guò)程中可開(kāi)泵循環(huán)和提放或低速轉(zhuǎn)動(dòng)鉆具，能有效防止卡鉆事故，是一種較安全、簡(jiǎn)便的測(cè)斜儀器。
產(chǎn)品特點(diǎn)： 1、探管直徑Φ27mm/Φ1.06in 2、與傳統(tǒng)各類測(cè)斜儀器通用互換
3、可判斷浮測(cè)單點(diǎn)數(shù)據(jù)是否到底和到底時(shí)間
4、可測(cè)量井下磁場(chǎng)變化
5、充電一次可連續(xù)工作40小時(shí)
6、操作簡(jiǎn)單、直觀易學(xué)
規(guī)格及參數(shù)： 井 斜 角 誤 差： ±0.1°
方 位 角 誤 差： ±1.0° (0°～360°) (井斜≥5°)
重力工具面誤差： ±1.0° (0°～360°) (井斜≥5°)
磁性工具面誤差： ±1.0° (0°～360°) (井斜< 5°)
工 作 井 斜： 0～40°
工作 環(huán)境 溫度： -10～125℃/14～257℉
儀器 大 耐壓： 60MPa/8700Psi
探 管 尺 寸： Φ27×303mm/Φ1.06×11.93in
浮筒 外形 尺寸： Φ48×5145mm/Φ1.9×202.56in |
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